型半導體器件圖示測試系統

ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統，IV曲線自動生成，也可根據實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE 系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來，數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究.

通過USB或者RS232與電腦連接，通過友好的人機界面操作，即可完成測試。并實現結果以EXCEL和WORD的格式保存。提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。

系統特征：

● IV曲線顯示/局部放大                           

● 程序保護zui大電流/電壓,以防損壞         

● 品種繁多的曲線

● 可編程的數據點對應                    

● 增加線性或對數

● 可編程延遲時間可減少器件發熱           

● 保存和重新導入入口程序

● 保存和導入之前捕獲圖象                 

● 曲線數據直接導入到EXCEL

● 曲線程序和數據自動存入EXCEL            

● 測試范圍廣（19大類、27分類）

曲線測試：

ID vs. VDS at range of VGS             

ID vs. VGS at fixed VDS

IS vs. VSD                             

RDS vs. VGS at fixed ID

RDS vs. ID at several VGS             

IDSS vs. VDS  /  HFE vs. IC                            

BVCE（O,S,R,V） vs. IC

BVEBO vs. IE                          

BVCBO vs. IC

VCE（SAT） vs. IC             

VBE（SAT） vs. IC

VBE（ON） vs. IC （use VBE test）      

VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF

測試參數：

漏電參數：IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

擊穿參數：BVCEO、BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO

增益參數：hFE、CTR、gFS

導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

關斷參數：VGSOFF

觸發參數：IGT、VGT

保持參數：IH、IH+、IH-

鎖定參數：IL、IL+、IL-

混合參數：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

間接參數：IL

應用領域 

技術指標